เครื่องทดสอบอายุการใช้งานโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ RS-6303T ได้รับการออกแบบมาสําหรับข้อกําหนดในการทดสอบของโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ และจําเป็นต้องเป็นไปตามการทดสอบอายุการใช้งานของโทรศัพท์มือถือแบบพับได้สี่เครื่องที่มีขนาด W200*L250 มม. (สูงสุด)

เครื่องนี้ออกแบบมาสําหรับการทดสอบการหมุน (การตก) อย่างต่อเนื่องของโทรศัพท์มือถือ PDA, CD / MP3 ฯลฯ มาตรฐานที่ใช้บังคับ: IEC60068-2-32GB / T2423.8

ออกแบบมาสําหรับโมดูลหน้าจอสัมผัสแบบ capacitive และอินฟราเรดต่างๆ (โทรศัพท์มือถือแท็บเล็ต e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ ฯลฯ ) และสามารถทําการทดสอบการคลิกและรอยขีดข่วนได้ สําหรับการทดสอบความแม่นยํา การทดสอบความกระวนกระวายใจ การทดสอบความเป็นเส้นตรง การทดสอบความไว การทดสอบรอยขีดข่วนเป็นเวลานาน และการทดสอบการคลิกหน้าจอแบบ capacitive เป็นเวลานาน

ออกแบบมาสําหรับโมดูลหน้าจอสัมผัสแบบ capacitive CTP เครื่องโทรศัพท์มือถือแท็บเล็ตพีซี e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์และหน้าจอสัมผัสผลิตภัณฑ์อื่น ๆ เพื่อทําการทดสอบรอยขีดข่วน เหมาะสําหรับการทดสอบความแม่นยําของหน้าจอแบบ capacitive, การทดสอบความกระวนกระวายใจ, การทดสอบความเป็นเส้นตรง, การทดสอบความไว, การทดสอบรอยขีดข่วนเป็นเวลานานและการทดสอบการคลิกเป็นเวลานาน

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ได้รับการออกแบบมาสําหรับข้อกําหนดในการทดสอบโทรศัพท์มือถือแบบพับได้เพื่อให้เป็นไปตามการทดสอบอายุการใช้งานโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ขนาด W200 * L250 มม. (สูงสุด) สี่หรือหกตัว

RS-DP-03A2 เป็นเครื่องทดสอบการตกหล่นอัตโนมัติขั้นสูงที่ออกแบบมาโดยเฉพาะสําหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์สําหรับผู้บริโภคขนาดเล็กเช่นโทรศัพท์มือถือแท็บเล็ตหูฟังและอื่น ๆ ช่วยให้ผู้ผลิตประเมินประสิทธิภาพและความทนทานของผลิตภัณฑ์หลังจากตกหล่นโดยไม่ได้ตั้งใจ เพื่อให้มั่นใจว่าเป็นไปตามมาตรฐานคุณภาพและสามารถทนต่อผลกระทบในโลกแห่งความเป็นจริงได้ เครื่องทดสอบนี้เป็นตัวเลือกที่เหมาะสําหรับการควบคุมคุณภาพ การพัฒนาผลิตภัณฑ์ และการทดสอบความน่าเชื่อถือ

เครื่องนี้เหมาะสําหรับการทดสอบปุ่มของหูฟังโทรศัพท์มือถือแท็บเล็ต e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ ฯลฯ นอกจากนี้ยังเหมาะสําหรับการทดสอบความต้านทานแรงกระแทกและอายุการใช้งานของปุ่มยางนําไฟฟ้าต่างๆปุ่มสะเก็ดโลหะปุ่มรีโมทคอนโทรล ฯลฯ ของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์

เครื่องนี้เหมาะสําหรับการทดสอบอายุการใช้งานการบิดของหูฟัง วิธีการทดสอบการบิดคือ: หลังจากที่หูฟังได้รับการแก้ไขด้วยที่หนีบด้านหน้าและด้านหลังแล้วหูฟังจะถูกยืดออกในทิศทางตรงกันข้ามไปยังระยะทางที่กําหนดในเวลาเดียวกันจากนั้นจึงยืดไปในทิศทางตรงกันข้ามในเวลาเดียวกันไปยังตําแหน่งเริ่มต้น สามารถตั้งค่าจังหวะทดสอบได้ หลังจากการทดสอบ N หูฟังจะถูกถอดออกเพื่อทดสอบประสิทธิภาพของแถบคาดศีรษะ