ออกแบบมาสําหรับโมดูลหน้าจอสัมผัสแบบ capacitive CTP เครื่องโทรศัพท์มือถือแท็บเล็ตพีซี e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์และหน้าจอสัมผัสผลิตภัณฑ์อื่น ๆ เพื่อทําการทดสอบรอยขีดข่วน เหมาะสําหรับการทดสอบความแม่นยําของหน้าจอแบบ capacitive, การทดสอบความกระวนกระวายใจ, การทดสอบความเป็นเส้นตรง, การทดสอบความไว, การทดสอบรอยขีดข่วนเป็นเวลานานและการทดสอบการคลิกเป็นเวลานาน

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ RS-6303T ได้รับการออกแบบมาสําหรับข้อกําหนดในการทดสอบของโทรศัพท์มือถือแบบพับได้ และจําเป็นต้องเป็นไปตามการทดสอบอายุการใช้งานของโทรศัพท์มือถือแบบพับได้สี่เครื่องที่มีขนาด W200*L250 มม. (สูงสุด)

เครื่องนี้ออกแบบมาสําหรับการทดสอบการหมุน (การตก) อย่างต่อเนื่องของโทรศัพท์มือถือ PDA, CD / MP3 ฯลฯ มาตรฐานที่ใช้บังคับ: IEC60068-2-32GB / T2423.8

เครื่องทดสอบแรงบิดอัตโนมัติที่อุณหภูมิสูงและต่ํา RS-6300G-HLT ได้รับการออกแบบมาสําหรับการทดสอบแรงบิดและการทดสอบอายุการใช้งานของเครื่องโทรศัพท์มือถือหน้าจอพับ, หน้าจอยืดหยุ่น PI, กลไกโซ่แอมโมเนียม, โมดูล UTG, FPC ฯลฯ ภายใต้สภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูงและต่ํา

ออกแบบมาสําหรับโมดูลหน้าจอสัมผัสแบบ capacitive และอินฟราเรดต่างๆ (โทรศัพท์มือถือแท็บเล็ต e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ ฯลฯ ) และสามารถทําการทดสอบการคลิกและรอยขีดข่วนได้ สําหรับการทดสอบความแม่นยํา การทดสอบความกระวนกระวายใจ การทดสอบความเป็นเส้นตรง การทดสอบความไว การทดสอบรอยขีดข่วนเป็นเวลานาน และการทดสอบการคลิกหน้าจอแบบ capacitive เป็นเวลานาน

เครื่องทดสอบความทนทานของแรงบิดแกนหมุน rs-6700 (ประเภทเซอร์โว) ได้รับการออกแบบมาสําหรับจอแสดงผลคริสตัลเหลว LCD MONITOR, ทีวีคริสตัลเหลว V, คอมพิวเตอร์ all-in-one เป็นต้น หลังจากการทดสอบการเอียงไปข้างหน้าและแกว่งไปข้างหลังหลายครั้งไม่ว่าเพลาโรเตอร์จะยังคงมีแรงยึดหรือความต้านทานของเพลาโรเตอร์จะมีขนาดใหญ่และทําให้ตัวพลาสติกเสียหาย

เครื่องทดสอบการตกหล่นอัตโนมัติ RS-DP-03A2 ได้รับการออกแบบมาเพื่อประเมินผลกระทบต่อประสิทธิภาพของผลิตภัณฑ์เมื่อลูกค้าทําผลิตภัณฑ์ตกโดยไม่ได้ตั้งใจระหว่างการใช้งานจริง เหมาะสําหรับการทดสอบการตกหล่นในผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์สําหรับผู้บริโภคแบบพกพา เช่น โทรศัพท์มือถือ แท็บเล็ต เครื่องชาร์จ e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ แบตเตอรี่ หน้าจอสัมผัส หูฟัง ฯลฯ

RS-8106C เป็นเครื่องทดสอบอายุการใช้งานแรงบิดแบบพิเศษที่ออกแบบมาเพื่อประเมินความทนทานและอายุการใช้งานของกลไกการหมุนบนหูฟังแบบครอบหู ด้วยการจําลองการหมุนอย่างต่อเนื่องภายใต้มุมและความเร็วที่กําหนดค่าได้ ทําให้มั่นใจได้ว่าข้อต่อหูฟังสามารถทนต่อการใช้งานซ้ําๆ ได้โดยไม่เกิดความล้มเหลว เหมาะอย่างยิ่งสําหรับการวิจัยและพัฒนา การควบคุมคุณภาพ และการเปรียบเทียบ