ผลิตภัณฑ์

เครื่องทดสอบแรงกระแทกของกระจกนิรภัย RS-8220LQ ได้รับการออกแบบตามมาตรฐาน GB/T9962-1999 วัสดุกระจกนิรภัยสําหรับการใช้งานในอาคาร - ข้อกําหนดประสิทธิภาพกระจกนิรภัยและวิธีการทดสอบ 6.10 วิธีประสิทธิภาพการลอกด้วยแรงกระแทกของลูกบอลตก เพื่อตอบสนองข้อกําหนดของการทดสอบแรงกระแทกของกระจกลามิเนตนิรภัยสําหรับการใช้งานในอาคาร

มาตรฐานการทดสอบ
JIS R3205∶ 1989, ISO / DIS12542112543-6: 1997 AS / NZS2208: 1996, GB / T9962-1999

ฟีเจอร์ หลัก

• ช่วงความสูงของหยดกว้าง: 
  • RS-315: 300 มม. ถึง 1500 มม
  • RS-320: 300 มม. ถึง 2000 มม
• รับน้ําหนักได้สูง: รองรับน้ําหนักได้ถึง 100 กก. เหมาะสําหรับผลิตภัณฑ์ขนาดและน้ําหนักต่างๆ
• การทดสอบที่แม่นยํา: ข้อผิดพลาดมุมตก ≤5 °ความแม่นยําในการแสดงผลความสูง ≤2% ของค่าที่ตั้งไว้
• พื้นที่ทดสอบที่กว้างขวาง: 800×600×1000 มม. รองรับรายการที่หลากหลาย
• ทนทานและเชื่อถือได้: โครงสร้างที่แข็งแรงพร้อมเสถียรภาพในการทํางานในระยะยาว
• การใช้งานที่หลากหลาย: เหมาะสําหรับของเล่น อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ เฟอร์นิเจอร์ บรรจุภัณฑ์ และอื่นๆ

โปรแกรมประยุกต์
เครื่องทดสอบแรงกระแทกของถุงยิงได้รับการออกแบบตาม "วัสดุกระจกนิรภัยทางสถาปัตยกรรม GB/T9962-1999 - ข้อกําหนดด้านประสิทธิภาพของกระจกนิรภัยและวิธีการทดสอบ" ของ "วิธีกระแทกถุง Kasumi 6.11" เพื่อตอบสนองความปลอดภัยทางสถาปัตยกรรมของข้อกําหนดการทดสอบแรงกระแทกของกระจกลามิเนต

มาตรฐานการทดสอบ
ANSIZ97.1、ISO/DIS125421~12543-6:1997、AS/NZS2208:1996、GB/T9962-1999

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบแทรกและแยกตัวเชื่อมต่อ RS-8115A-5L ได้รับการออกแบบมาสําหรับการทดสอบอายุการใช้งานการแทรกและการสกัดบนตัวเชื่อมต่อต่างๆ ที่ใช้ในอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์สําหรับผู้บริโภค เช่น โทรศัพท์มือถือ แท็บเล็ต e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ และอื่นๆ ขั้วต่อเหล่านี้รวมถึงอะแดปเตอร์ชาร์จ สายชาร์จ สายหูฟัง สายข้อมูล และขั้วต่อประเภท อื่นๆ

ส่วนใหญ่ใช้เพื่อให้สามารถงอแผงวงจร [ที่เรียกกันทั่วไปว่าแผงวงจรซอฟต์แวร์] สําหรับการทดสอบการยืดหยุ่น เช่นโทรศัพท์มือถือ, PDA, พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์, คอมพิวเตอร์แล็ปท็อปและผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์อื่น ๆ บอร์ดยืดหยุ่น FPC ของความต้านทานต่อการงอ, การทดสอบการตรวจจับชีวิตงอ

ห้องทดสอบป้องกันการระเบิดที่อุณหภูมิสูงและต่ําสองชั้น ITM-DEP-288L ได้รับการออกแบบมาสําหรับการทดสอบแบตเตอรี่แบตเตอรี่ผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์และผลิตภัณฑ์ชิ้นส่วนและวัสดุอื่น ๆ ที่อุณหภูมิสูงและต่ํา อุปกรณ์สามารถจําลองการตรวจสอบคุณภาพและการทดสอบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ชิ้นส่วนและวัสดุภายใต้สภาวะของการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ

ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ําใช้กับวิศวกรรมไฟฟ้าผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ส่วนประกอบและการทดสอบแบบปรับตัวของวัสดุระหว่างการจัดเก็บการขนส่งและการใช้งานในอุณหภูมิสูงและต่ํา

In addition to testing the adaptability and the characteristics of the product had been changed under the general conditions of temperature and humidity combination (High-low temperature & storage, temperature cycling, high temperature and high humidity or moisture condensation test) by simulatable products, low humidity and constant temperature-humidity test chamber can also test whether the crazing and breakage of the product would happen under the conditions of low temperature and low humidity, high temperature and low humidity, high temperature and high humidity, low temperature and high humidity. Further more, the static content in air under the low humidity condition is many time more than the general condition, and it is said that most damage of the electronic components is caused by static.
Meeting the requirements of international specification test (IEC, JIS. JB, MIL...) to ensure the consistency of international measurement programs (including testing procedures, conditions and methods) to avoid cognitive differences and reduces the measurement uncertainties.

เครื่องนี้เหมาะสําหรับการทดสอบปุ่มของหูฟังโทรศัพท์มือถือแท็บเล็ต e-book พจนานุกรมอิเล็กทรอนิกส์ ฯลฯ นอกจากนี้ยังเหมาะสําหรับการทดสอบความต้านทานแรงกระแทกและอายุการใช้งานของปุ่มยางนําไฟฟ้าต่างๆปุ่มสะเก็ดโลหะปุ่มรีโมทคอนโทรล ฯลฯ ของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์